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導致涂層測厚儀出現(xian)測量(liang)誤差的幾大原因

        涂層(ceng)測厚儀采用了一種新(xin)的磁感(gan)應技術(shu)，即霍爾效應。通過研究霍爾電(dian)壓(ya)(ya)與工作電(dian)流的關系，測量出(chu)電(dian)磁鐵(tie)的磁場(chang)、磁導(dao)率，以及霍爾電(dian)壓(ya)(ya)與磁場(chang)的關系。這(zhe)個磁場(chang)變得有規律。將(jiang)此原(yuan)理應用于涂層(ceng)測厚儀無需調整試件。特別是(shi)在測量弧形或凹面產品時使用起(qi)來更(geng)加簡單方便。
        涂層(ceng)測厚儀(yi)采用電磁(ci)感(gan)應(ying)法測量(liang)涂層(ceng)的厚度。位于元件表(biao)面的探頭(tou)產生(sheng)閉合磁(ci)路。隨(sui)著探頭(tou)與鐵磁(ci)材料距(ju)離的變化(hua)(hua)，磁(ci)路會(hui)發生(sheng)不同(tong)程(cheng)度的變化(hua)(hua)，從(cong)而(er)導致探頭(tou)線圈(quan)的磁(ci)阻和電感(gan)發生(sheng)變化(hua)(hua)。利用這一原理，可以(yi)準確(que)測量(liang)探頭(tou)與鐵磁(ci)材料之(zhi)間的距(ju)離，即涂層(ceng)厚度。
        涂(tu)層測厚(hou)儀無需長時間定期(qi)充放電，防止電池鎖死。對(dui)于一些小工件(jian)或鍍層特別(bie)薄的工件(jian)，建議采用(yong)連續(xu)測量(liang)法。
        造成(cheng)涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀測(ce)量誤差(cha)的原因(yin)有以下(xia)幾種：
         1、測厚儀被測材料(liao)的(de)厚度結構(gou)、形(xing)狀(zhuang)不同。在不同結構(gou)的(de)工件上，磁場分布會隨著(zhu)結構(gou)和(he)形(xing)狀(zhuang)的(de)不同而變化，從而導(dao)致測量誤差。
         2.被測材料本(ben)身含有磁性。有些材料在(zai)加工過(guo)程(cheng)中或某(mou)些工藝要(yao)求(qiu)時，被測材料中存在(zai)剩余(yu)磁場(chang)。由(you)于其分布不(bu)均(jun)勻，由(you)此產生的(de)測量誤差也不(bu)一致，同一工件上(shang)某(mou)些部位(wei)的(de)測量值(zhi)會突(tu)然變大或變小。
 ;        3、同一種(zhong)材料的不(bu)同部(bu)位(wei)也可能產生(sheng)磁場(chang)變化。例(li)如，材料邊緣和中(zhong)間(jian)區域的磁場(chang)分(fen)布不(bu)同，會造成測量誤(wu)差。
         4、被測材料的磁通量因性質不同(tong)而(er)不同(tong)，這也(ye)是產生誤差的原因之一(yi)。
         5、材料(liao)的大小和厚度(du)不(bu)同(tong)，也會(hui)導致測量誤差。
         6、被測(ce)材(cai)料(liao)表面(mian)不夠光滑，這也是產(chan)生(sheng)誤差的(de)原因。