更新(xin)時間:2021-06-07
CX-118A晶振測試儀本(ben)系(xi)列儀器(qi)采(cai)用(yong)倒數計數技(ji)術實現等精度測(ce)量(liang)。它測(ce)量(liang)精度高,靈(ling)敏度高,速度快,閘門時間可選;具有(you)頻率(lv)測(ce)量(liang)、周(zhou)期測(ce)量(liang)、PPM測(ce)量(liang)、分(fen)檔測(ce)量(liang)、上下(xia)限(xian)測(ce)量(liang)、累加計數等功能
CX-118A晶振測試儀
本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1~Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。
主要特征
1 .本機采用倒數計數技術,測量精度高,測量范圍寬,真正實現等精度測量,測量速度快,靈敏度高。
2 .采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能/價格比。
3 .整(zheng)機采用大(da)(da)規模集成(cheng)電(dian)路設計,CPLD器(qi)(qi)件的運用,使儀器(qi)(qi)元(yuan)器(qi)(qi)件大(da)(da)為減少,可(ke)靠(kao)性有了(le)很大(da)(da)的提高,平(ping)均*工作(zuo)時間≥10000h。
整機外(wai)型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。
CX-118A晶振測試儀
技術參數
頻率測量(liang):A通道:1Hz~100MHz;
B通道:100MHz~1.6GHz(選(xuan)件)
周期測(ce)量(liang):A通道:10ns~1s
PPM測(ce)量:-9999~9999ppm
上、下限測量:可根據用戶所設定的上限參數FU、下限參數FL來測(ce)量被測(ce)頻率(lv)是否超出上、下(xia)限(xian),超限(xian)則報警。
分檔測量:根據用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。分檔值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之間任意設(she)置
分檔檔數:以中心頻率F0為中點(dian)左右分成16檔
累加計數:計數容量:0~109-1 (選件)
計數方式(shi):鍵控(kong)、門控(kong)或(huo)外(wai)門控(kong)可(ke)選。3.2 輸入特性
輸(shu)入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF
B通(tong)道: 50Ω3.2.2 輸入耦合方式:AC3.2.3 波形(xing)適應性:正弦波、脈沖波
輸入電壓動態范圍:
A通(tong)(tong)道(dao):30mVrms~250Vp~pB通(tong)(tong)道(dao): 30mVrms~1Vrms3.2.5 A通(tong)(tong)道(dao)低通(tong)(tong)濾波器(qi):-3dB 帶寬約100kHz3.2.6 A通(tong)(tong)道(dao)衰減:×1或×203.3 測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)3.3.1 頻率或周期(qi)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha):±時基誤(wu)差(cha)±觸(chu)(chu)發誤(wu)差(cha)±LSD100ns其(qi)中:LSD=─────×被測(ce)頻率(或被測(ce)周期(qi))閘門時間觸(chu)(chu)發誤(wu)差(cha):當被測(ce)信號的信噪比為40dB時,觸(chu)(chu)發誤(wu)差(cha)≤0.3%
021-63515607
上海市臨洮路
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