GDJF-2006局部放電測試系統

GDJF-2006局部放電測試系統

的定義及產生原因

在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作用下(xia)，絕(jue)緣系統中只有部(bu)分區域發(fa)生放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，但尚未(wei)擊穿，（即在(zai)施(shi)加電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)導體(ti)之間沒有擊穿）。這種(zhong)現象稱(cheng)(cheng)之為(wei)(wei)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)可能發(fa)生在(zai)導體(ti)邊上，也(ye)可能發(fa)生在(zai)絕(jue)緣體(ti)的(de)(de)(de)表面(mian)上和內部(bu)，發(fa)生在(zai)表面(mian)的(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)表面(mian)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。發(fa)生在(zai)內部(bu)的(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)內部(bu)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。而(er)對于被氣體(ti)包圍的(de)(de)(de)導體(ti)附近(jin)發(fa)生的(de)(de)(de)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，稱(cheng)(cheng)之為(wei)(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)暈。由此 總結一(yi)下(xia)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)定義，指部(bu)分的(de)(de)(de)橋(qiao)接導體(ti)間絕(jue)緣的(de)(de)(de)一(yi)種(zhong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)產生原因主要有以(yi)下(xia)幾種(zhong)：

• 電場不均勻(yun)。

• 電介(jie)質不均勻。

• 制造過(guo)程(cheng)的(de)(de)氣(qi)泡(pao)或雜質。zui經常發(fa)生放電(dian)的(de)(de)原因(yin)是(shi)絕緣體內部或表面(mian)存在氣(qi)泡(pao)；其(qi)次是(shi)有(you)些設備的(de)(de)運(yun)行(xing)(xing)過(guo)程(cheng)中會發(fa)生熱脹(zhang)冷縮,不(bu)同(tong)材(cai)料特別是(shi)導體與介(jie)質的(de)(de)膨脹(zhang)系數不(bu)同(tong)，也(ye)會逐漸出(chu)現(xian)裂縫；再有(you)一些是(shi)在運(yun)行(xing)(xing)過(guo)程(cheng)中有(you)機(ji)高分子的(de)(de)老化(hua)，分解出(chu)各種揮發(fa)物，在高場(chang)強的(de)(de)作用下，電(dian)荷不(bu)斷地由(you)導體進(jin)入(ru)介(jie)質中， 在注入(ru)點(dian)上就會使介(jie)質氣(qi)化(hua)。

產品用途

GDJF2006 局部放電檢測(ce)分析系統（局放儀）由三大模塊構成：信號處理模塊，隔離模塊，采集處理模塊。根據系統連接圖，檢測阻抗將局部放電信號檢出并送到信號處理模塊，信號處理模塊完成將局部放電信號整理、放大、整形等功能后將局部放電信號送往隔離模塊，隔離模塊將計算機采集處理模塊和信號處理模塊隔開，防止它們之間互相干擾，zui后由采集處理模塊完成對局部放電信號的采集.處理.分析和顯示

• 采用高(gao)(gao)速.大容量數(shu)據(ju)采集卡，能進行連(lian)續(xu)采集局放數(shu)據(ju),數(shu)據(ju)復現(xian)性好,準(zhun)確度(du)高(gao)(gao)。

• 具有測試(shi).分(fen)析(多參數分(fen)析.二(er)維圖譜(pu)分(fen)析.三維圖譜(pu)分(fen)析).數據保存。報告(gao)生成及打印等(deng)功能

• 能同時(shi)顯示局部放電(dian)波(bo)形(xing)（橢圓。正鉉波(bo)。直線三種(zhong)方式）。局放量和(he)測試電(dian)壓。

• 在校正和測試過程(cheng)中自動調(diao)節增益而(er)不需要人為干(gan)預，操(cao)做簡(jian)便.

• 可適應工(gong)頻（50Hz）三倍頻（150Hz）zui高至400Hz的電(dian)源。

• 可實現對外加電源頻率的(de)自動跟蹤.

• 開門開窗可任意設置zui小可至1度。

• 可(ke)單通道也可(ke)六個通道進行測量.

• 體積小(xiao)，重量輕。既適合(he)于電力部門和(he)制造廠(chang)車間等現場使用，也適合(he)于科學研究試(shi)驗。

• 靈敏度高，適用的(de)試(shi)品范圍廣等(deng)優點(dian)。

與(yu)局放(fang)儀相關(guan)的三種典型(xing)的試品的試驗線路：

（一(yi)）并聯法(fa)        （二）串(chuan)聯法(fa)              （三）平衡法(fa)

• 標準試驗電路，又稱(cheng)并聯法。適合于(yu)必須(xu)接(jie)地的試品。 其(qi)缺點是高(gao)壓引線對(dui)地雜散電容并聯在 CX上，會降低測試靈敏(min)度。

• 接法的串聯法，其(qi)要求試(shi)品低壓(ya)端對(dui)地(di)浮置。 其(qi)優點是變壓(ya)器入口電容(rong)、高壓(ya)線對(dui)地(di)雜散(san)電容(rong)與耦合電容(rong)CK并(bing)聯，有利于提高試(shi)驗(yan)靈敏度。缺(que)點是試(shi)樣損壞時會(hui)損壞輸入單(dan)元。

• 平衡法試(shi)驗電路：要求兩個(ge)試(shi)品相接(jie)近，至少電容量為同一數量級其(qi)優點(dian)是外(wai)干擾強烈的(de)情(qing)況下，可(ke)(ke)取(qu)得較好抑(yi)制干擾的(de)效果，并可(ke)(ke)消除變(bian)壓器雜散電容的(de)影響，而且(qie)(qie)可(ke)(ke)做(zuo)大電容試(shi)驗。缺點(dian)是須要兩個(ge)相似的(de)試(shi)品，且(qie)(qie)當產(chan)生放電時，需設法判別是哪個(ge)試(shi)品放電。

值(zhi)得(de)提出(chu)的(de)是：由于現(xian)(xian)(xian)場試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)條件的(de)限制（找到兩(liang)個相似的(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)品且要保(bao)證一(yi)個試(shi)(shi)(shi)(shi)品無放(fang)電(dian)不太容易），所以在現(xian)(xian)(xian)場平衡法(fa)比較(jiao)難實現(xian)(xian)(xian)，另外，由于采用串聯法(fa)時(shi)(shi)，如果試(shi)(shi)(shi)(shi)品擊穿，將會對設備(bei)造成比較(jiao)大的(de)損害，所以出(chu)于對設備(bei)保(bao)護的(de)想法(fa)，在現(xian)(xian)(xian)場試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)時(shi)(shi)一(yi)般采用并聯法(fa)。

采用并聯法的整個系統的接線原理圖。

該(gai)系(xi)統(tong)采(cai)用脈沖電流法檢測高(gao)壓(ya)試(shi)品的(de)(de)局部(bu)放電量，由控制(zhi)臺(tai)控制(zhi)調壓(ya)器(qi)(qi)和(he)(he)變壓(ya)器(qi)(qi)在試(shi)品的(de)(de)高(gao)壓(ya)端產生測試(shi)局放所需的(de)(de)預加(jia)電壓(ya)和(he)(he)測試(shi)電壓(ya)，通過(guo)無局放藕(ou)合電容(rong)器(qi)(qi)和(he)(he)檢測阻(zu)抗將局部(bu)放電信(xin)號(hao)取(qu)出并送至局部(bu)放電檢測儀顯示并判斷和(he)(he)測量。系(xi)統(tong)中(zhong)(zhong)的(de)(de)高(gao)壓(ya)電阻(zu)為了防(fang)止在測試(shi)過(guo)程中(zhong)(zhong)試(shi)品擊(ji)穿而(er)損壞其他設備，兩個(ge)(ge)電源(yuan)(yuan)濾波器(qi)(qi)是將電源(yuan)(yuan)的(de)(de)干擾和(he)(he)整個(ge)(ge)測試(shi)系(xi)統(tong)分開，降(jiang)低整個(ge)(ge)測試(shi)系(xi)統(tong)的(de)(de)背(bei)景(jing)干擾。

根(gen)據(ju)上述(shu)原理圖可(ke)以看出(chu)，局部放電(dian)(dian)測試的(de)(de)靈敏度和準確(que)(que)度和整(zheng)個系(xi)統密切相關，要想順利和準確(que)(que)的(de)(de)進行局部放電(dian)(dian)測試，就必須將整(zheng)個系(xi)統考濾周到，包括(kuo)系(xi)統的(de)(de)參數選取(qu)和連(lian)接(jie)方(fang)式。另外(wai)，在現場試驗時，由于(yu)是驗證性試驗，高壓限流電(dian)(dian)阻可(ke)以省掉。

幾種(zhong)典型試品的接線原理圖(tu)。

（1）電(dian)流互(hu)感器(qi)的局放測試接(jie)線(xian)原理圖

（2）電壓互感器的局放測試接線原理圖
A．工頻加壓方式接線原理圖

B．高頻加(jia)壓方式接線原理圖

為了防止電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)在工頻電壓(ya)下(xia)產生(sheng)大的(de)(de)(de)勵磁電流而損(sun)壞，高壓(ya)電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)一般(ban)采取自激勵的(de)(de)(de)加(jia)壓(ya)方式(shi)。在電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)(de)(de)低壓(ya)側加(jia)一倍(bei)頻電源(yuan)，在電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)(de)(de)高壓(ya)端(duan)感(gan)應出高壓(ya)來進行局部放(fang)電實驗。這就(jiu)是通常所說的(de)(de)(de)三倍(bei)頻實驗。其接線原理圖如(ru)下(xia)：

(3)高壓電容器.絕緣子的局(ju)放測(ce)試接線原理(li)圖

(4) 發電(dian)機(ji)的局放測試接線(xian)原理圖

（5）變壓器的局部放(fang)電測試(shi)接線原理圖